报告题目：无公度调制结构简介及Bi2Sr1.6La0.4CuO6调制函数测定
报告时间：2015年12月25日上午9:00
地点：教十一318会议室
报告内容：
首先将介绍无公度调制结构的基本概念及相关知识[1]，利用调制波矢结合基本结构对称性测定无公度调制结构超空间群的方法[2]。在此基础上介绍我们组发展的利用有限尺寸TEM高分辨像测定无公度调制结构调制函数的方法[3]，并以负球差成像[4]下拍摄的Bi2Sr1.6La0.4CuO6高分辨像为例进行说明[5]。
[1] P.M. De Wolff, T. Janssen, A. Janner, Acta Crystallogr. Sect. A, 37 (1981) 625-636.
[2] P.M. De Wolff, Acta Cryst. A, 30 (1974) 777-785.
[3]X. Li, B. Ge, F. Li, H. Luo, H. Wen, Acta Crystallogr. Sect. A, 70 (2014) 563-571.
[4] B. Ge, Y. Wang, Y. Chang, Y. Yao, Microsc. Microanal., 20 (2014) 1447-1452.
[5] B. Ge, Y. Wang, H. Luo, H. Wen, R. Yu, Z. Cheng, J. Zhu, Ultramicroscopy, 159, Part 1 (2015) 67-72.
个人简历：
葛炳辉
中国科学院物理研究所，先进材料实验室，副研究员
1997-2004 山东大学，硕士
2004-2008 中国科学院物理研究所，博士
2008-2010 清华大学北京电镜中心，博士后
2010.7至今 中科院物理所
2013.9-2014.9 美国Brookhaven国家实验室，访问学者
主要研究方向
1） 像差矫正电子显微学方法、像衬理论及电子晶体学和图像处理；
2） 像差矫正电子显微学在高温合金、热电及半导体等材料中的应用。
